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電離層閃爍指數



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電離層閃爍指數預測

由國立中央大學所開發的電離層閃爍指數模式,是利用福衛三號多年來的閃爍指數觀測資料以多項式函數回歸並參數化後所建構的經驗模式,透過輸入太陽輻射參數(F10.7)預報數值後,可提供未來3天(72小時)的逐時全球電離層閃爍指數預報。目前提供3種產品,分別為台灣地區未來三日的逐時閃爍指數預測、全球與東亞範圍的閃爍指數預報和超過特定門檻值(0.2、0.5和0.8)的發生率。

電離層電子濃度分布中如果出現不規則體時,對於穿透電離層(包含電離層反射與衛星和地面間)的電波訊號就容易產生干擾,而讓電波訊號出現衰減或閃爍現象,造成通訊干擾、衛星失鎖與定位偏差等狀況出現。當閃爍指數大於0.2的時候,就表示電波訊號可能會受到干擾,而隨著閃爍指數提高則影響的程度就會更高,因此可從指數的高低來評估訊號是否受到影響。

資料來源:中央氣象局

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